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宇航用SiP器件的FMEA分析方法和系统

902   编辑：管理员   来源：中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:57
本发明公开了一种宇航用SiP器件的FMEA分析方法和系统，其中，该方法包括：根据宇航用SiP器件的组成结构，对宇航用SiP器件的各个模块进行层次定义；对宇航用SiP器件的各个模块进行潜在失效模式分析，确定宇航用SiP器件的各组成模块存在的潜在失效模式；对各潜在失效模式进行失效原因和机理分析，得到第一分析结果；对各潜在失效模式进行故障影响和严酷度分析，得到第二分析结果；根据第一分析结果和第二分析结果，输出FMEA分析结果表。本发明提供了一种适合宇航级SiP器件应用的FMEA分析方法。通过对SiP进行单元分解，并对每一潜在故障模式进行分析，从而得到该款器件的FMEA的分析结论，为元器件质量保证工作提供了有效的技术支撑。
声明：
“宇航用SiP器件的FMEA分析方法和系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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