合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 集成电路芯片引脚的性能分析方法、装置、设备及介质

集成电路芯片引脚的性能分析方法、装置、设备及介质

671   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:56
本申请公开了一种集成电路芯片引脚的性能分析方法、装置、设备及介质,该方法包括:将印制电路板和集成电路芯片的几何数据导入有限元建模软件中,建立有限元模型;对印制电路板和集成电路芯片的主体部分进行有限元网格划分,使芯片的每个引脚处均有网格节点;在每个引脚位置建立梁单元并设置相关接触关系失效参数;完成有限元模型中包含赋予材料和属性、设置部件间连接关系和接触关系的建模内容,并根据分析工况设置约束参数及载荷参数;对有限元模型进行运算分析,并根据运算分析结果判断集成电路芯片引脚是否满足结构力学相关性能要求。本申请可免去生产试验试制件和进行试验测试的环节,有效提高研发效率,降低研发成本,缩短研发周期。
声明:
“集成电路芯片引脚的性能分析方法、装置、设备及介质” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记