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集成电路中降低存储器失效之方法

614   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:39
存储器可靠性由使用冗余修复可由ECC侦测的错误而被改良。在一具体实施例中,冗余修复无法由ECC修正的错误。冗余可利用电子熔丝的使用,在包含该存储器的IC被封装后激活修复。冗余亦可在该IC的封装前被执行。
声明:
“集成电路中降低存储器失效之方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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失效分析
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