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高效的晶圆连续失效芯片数量统计算法

779   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:38
本发明提供一种高效的晶圆连续失效芯片数量统计算法,包括:步骤一、初始化所有坐标,二、得到初始化为全0的矩阵A,三、测试完一个芯片后,将矩阵A对应位置设置成0或者1,1表示失效,如果是1则运算此芯片周围的8个芯片,四、情况一:8个芯片都不在连续失效芯片队列中,则此时连续失效芯片的数量为N+1,情况二:芯片中有M个在连续失效芯片队列Q1中,有N个在Q2中,则从Q1,Q2中各取出一个芯片记作Die1,Die2,则连续失效芯片的数量为V(Die1)+V(Die2)+1,情况三:M个孤立,N个在队列Q1中,此时连续失效芯片的数量为M+V(Die1)+1。本发明能有效提高监控和操作效率,提高监视的便利性。
声明:
“高效的晶圆连续失效芯片数量统计算法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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