本发明公开了一种快速筛选
芯片失效风险的方法,把好品周围芯片的失效率做运算再判断,周边芯片失效率>87.5%中间的原好品判断为坏品,一颗好品周围有8颗芯片,其中失效7或是8颗测试为坏品,判断中间好品为坏品,一颗好品周围有7颗芯片,其中周围失效7颗,判断中间好品为坏品;本发明提供的快速筛选芯片失效风险的方法,将有潜在风险的芯片剔除,保证产品质量。
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