合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 快速筛选芯片失效风险的方法

快速筛选芯片失效风险的方法

673   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:38
本发明公开了一种快速筛选芯片失效风险的方法,把好品周围芯片的失效率做运算再判断,周边芯片失效率>87.5%中间的原好品判断为坏品,一颗好品周围有8颗芯片,其中失效7或是8颗测试为坏品,判断中间好品为坏品,一颗好品周围有7颗芯片,其中周围失效7颗,判断中间好品为坏品;本发明提供的快速筛选芯片失效风险的方法,将有潜在风险的芯片剔除,保证产品质量。
声明:
“快速筛选芯片失效风险的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记