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快速筛选芯片失效风险的方法

631   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:38
本发明公开了一种快速筛选芯片失效风险的方法,把好品周围芯片的失效率做运算再判断,周边芯片失效率>87.5%中间的原好品判断为坏品,一颗好品周围有8颗芯片,其中失效7或是8颗测试为坏品,判断中间好品为坏品,一颗好品周围有7颗芯片,其中周围失效7颗,判断中间好品为坏品;本发明提供的快速筛选芯片失效风险的方法,将有潜在风险的芯片剔除,保证产品质量。
声明:
“快速筛选芯片失效风险的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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