本发明公开了一种擦失效存储单元的替换方法、装置、设备及存储介质,接收外部测试机的擦操作指令,存储
芯片内部对block依次执行预编程校验、擦除校验和软编程校验,若在上述校验中出现校验失败,则相应执行判断或者替换操作,最后向外部测试机报告测试结果;由于测试机不再进行查找、计算、判断和替换,计算量大大下降,从而降低了对测试机的性能需求,另外,由于失效存储单元的判断转由存储芯片内部完成,不依靠外部测试机的read判断,因此也提高了测试的准确度。
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