本公开是关于一种位元失效数据获取方法、位元失效数据获取装置、计算机可读存储介质及电子设备,涉及集成电路技术领域。该位元失效数据获取方法包括:将整片晶圆划分为多个区域;测试每个所述区域,生成对应的位元失效文件;根据目标待测试
芯片的坐标,确定所述目标待测试芯片所对应的目标位元失效文件;从所述目标位元失效文件中提取所述目标待测试芯片的位元失效数据。本公开提供一种从整片晶圆的位元失效数据中提取一颗或几颗晶粒的位元失效数据的方法。
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