本发明提供一种多失效模式下电子产品可靠性指标加速验证方法,该方法通过建立加速因子矩阵,对矩阵进行分析运算,在综合考虑多失效模式以及多应力水平的情况下,确定最优的加速因子用以指导加速试验设计;在此基础上,通过建立加速试验载荷谱,综合利用加速因子、试验时间以及产品的可靠性指标,最终确定合理的试验时间用以验证给定的可靠性指标;相较于传统可靠性验证试验,该方法能够有效缩短试验时间,降低试验费用。
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