合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 芯片的失效定位方法

芯片的失效定位方法

821   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:35
本发明公开了一种芯片的失效定位方法,包括如下步骤:连接步骤:将待测芯片与驱动电路相接,并将OBIRCH机器的电源输出端与待测芯片的输入端或输出端相接;加电步骤:依照模拟芯片或数字电路芯片的加电顺序依次对待测芯片的输入端和/或输出端进行加电,当对各输入端加电完成之后时,获取失效定位图像以判断是否存在缺陷。本发明的芯片的失效定位方法通过对不同的芯片端位进行加电进而待测芯片工作,使得OBIRCH机器实现对芯片的动态检测,并且采用本发明的方法进行实现定位检测成本低廉、且节约时间。
声明:
“芯片的失效定位方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记