合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 基于失效物理的MOS器件可靠性仿真评价方法

基于失效物理的MOS器件可靠性仿真评价方法

740   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:35
本发明涉及一种基于失效物理的MOS器件可靠性仿真评价方法,包括以下步骤:步骤一:采集MOS器件相关参数;步骤二:进行失效模式、机理及影响分析;步骤三:建立CFD、FEA和故障预计模型;步骤四:开展温度、振动、电特性仿真分析;步骤五:进行应力损伤分析;步骤六:进行累积损伤分析;步骤七:考虑偏差进行参数随机化仿真;步骤八:利用竞争失效机制得到失效前时间向量:步骤九:评估器件的平均首发故障时间。本发明基于失效物理理论,从MOS器件可能失效的原因入手,通过分析获得器件潜在失效机理和对应失效物理模型,进行仿真分析确定器件使用应力,最后计算得到MOS器件使用条件下的平均首发故障时间。此方法属于MOS器件可靠性仿真评价技术领域。
声明:
“基于失效物理的MOS器件可靠性仿真评价方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记