合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 快速定位集成电路失效位置的方法及装置

快速定位集成电路失效位置的方法及装置

873   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:35
本发明公开了一种快速定位集成电路失效位置的方法,包括:步骤S1,导通集成电路中的任意一个包含PN结的器件,并对所述集成电路失效点施加测试信号;步骤S2,使用热发射显微镜从正面和背面分别获取所述PN结和所述失效点的深度信息;步骤S3,通过比较所述PN结和所述失效点的深度信息来判断所述失效点的失效位置。能够快速定位失效位置是在芯片内部还是在封装上,提高失效分析的效率。
声明:
“快速定位集成电路失效位置的方法及装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记