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快速定位集成电路失效位置的方法及装置

861   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:35
本发明公开了一种快速定位集成电路失效位置的方法,包括:步骤S1,导通集成电路中的任意一个包含PN结的器件,并对所述集成电路失效点施加测试信号;步骤S2,使用热发射显微镜从正面和背面分别获取所述PN结和所述失效点的深度信息;步骤S3,通过比较所述PN结和所述失效点的深度信息来判断所述失效点的失效位置。能够快速定位失效位置是在芯片内部还是在封装上,提高失效分析的效率。
声明:
“快速定位集成电路失效位置的方法及装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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