一种
芯片失效模式的确定方法、终端,所述方法包括:获取芯片在多个测试电压下的失效比特;对所获取到的失效比特进行失效模式运算,获得至少一个失效比特组以及每一个失效比特组的失效模式,其中,所述失效比特组包括至少一个测试电压下的失效比特;基于所述失效比特组的失效模式,确定所述失效比特组中失效比特的失效模式。通过本发明方案能够提高芯片失效分析的准确度。
声明:
“芯片失效模式的确定方法、终端” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)