合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 基于菊花链回路设计的定位失效凸点的方法

基于菊花链回路设计的定位失效凸点的方法

942   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:34
本发明属于半导体封装和通信技术领域,具体基于菊花链菊花链回路设计的定位失效凸点的方法。本发明主要针对圆片级封装等小间距凸点的封装类型,提出一种菊花链的设计及测试策略,包括如下步骤:在N×N凸点阵列中引入α、β、γ三种菊花链回路单元,并分别引出测试点;动态监控各个菊花链单元内部的电阻值的变化,以菊花链的不同回路形成的阻值判据来定位失效凸点;定位算法基于α、β、γ三种单元的判定算法;在器件可靠性测试过程中实时输出失效凸点的位置和失效时刻。本发明提高了凸点可靠性测试的智能化和精确定位能力,提升了测试分析效率;可获得丰富的测试信息,有效地降低了成本。
声明:
“基于菊花链回路设计的定位失效凸点的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记