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芯片测试分析方法、装置、设备及存储介质

927   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:34
本申请公开了一种芯片测试分析方法、装置、设备及存储介质,从目标芯片的记忆模块中获取所述目标芯片的测试信息,根据所述测试信息对所述目标芯片的测试过程进行分析。本方案中,由于该测试信息是永久保存于芯片内部,不易失效,方便了对芯片测试过程的追溯,从而节省了巨大的人力成本和时间成本,满足了客户要求。
声明:
“芯片测试分析方法、装置、设备及存储介质” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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