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考虑IGBT模块键合线失效的寿命预测方法及系统

620   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:34
本发明涉及一种考虑IGBT模块键合线失效的寿命预测方法及系统。该方法包括根据IGBT模块的在线监测数据判断IGBT模块的健康状态;在线监测数据包括:键合线的断裂条数;当IGBT模块为健康模块时,直接获取瞬态阻抗曲线,并根据瞬态阻抗曲线确定RC热网络模型,进而进行功率循环实验,实现寿命预测;当IGBT模块为老化模块时,根据瞬态热阻抗测量试验测得IGBT模块当前的瞬态热阻抗曲线,并利用当前的瞬态热阻抗曲线确定当前的RC热网络模型,进而进行功率循环实验,实现寿命预测。本发明能够提高IGBT模块的寿命预测结果的准确性。
声明:
“考虑IGBT模块键合线失效的寿命预测方法及系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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