本发明提供一种链式通孔结构样品处理方法及失效测试方法,包括:提供一链式通孔结构初始样品,所述链式通孔结构初始样品包括第二铜金属层,钽层,形成于通孔中且位于所述钽层上的铜插塞;对所述链式通孔结构初始样品进行研磨,直至暴露所述第二铜金属层;采用湿法刻蚀工艺去除所述第二铜金属层和所述铜插塞,形成链式通孔结构测试样品。本发明采用湿法刻蚀工艺去除第二铜金属层中的铜和铜插塞,留下钽层,避免了金属铜的短路现象,又因为钽层中含有金属钽满足聚焦离子束显微镜的使用要求,从而对链式通孔结构失效位置定位。
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