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并联MOSFET的失效预测

942   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:34
功率转换电路通常由若干并联工作的MOSFET组成。因为热循环和机械运作,MOSFET或MOSFET的各个电连接可能失效。根据本发明,提供一种用于多个并联的MOSFET的诊断电路,其至少基于MOSFET的温度或MOSFET的栅电压之一预测或确定可能的失效。有利的是,可以提供MOSFET的连续监测,并可以提供MOSFET失效的早期确定。
声明:
“并联MOSFET的失效预测” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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