合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 存储器失效测试方法及装置、存储介质及电子设备

存储器失效测试方法及装置、存储介质及电子设备

970   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:34
本公开是关于一种存储器失效测试方法、存储器失效测试装置、计算机可读存储介质及电子设备,涉及集成电路技术领域。该存储器失效测试方法包括:执行存储器的数据写入动作;数据写入动作包括:在存储器的存储阵列内的存储单元中写入预设存储数据,相邻的两条字线中,在存储阵列的后一条字线所对应的存储单元中写入与前一条字线所对应的存储单元的数据相反的数据;重复数据写入动作,直到写完存储阵列的所有字线所对应的存储单元;读取存储阵列中的数据,并与写入的数据进行比较,获得比较结果;根据比较结果对存储器的失效状态进行判定。本公开提供一种测试LIO漏电引起的DRAM资料读取失效的测试方法。
声明:
“存储器失效测试方法及装置、存储介质及电子设备” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记