本发明提供了一种软失效测试系统、方法和电子设备,涉及
芯片测试的技术领域,包括上位机、测试驱动器、待测电路板和辐射源;其中,待测电路板上设置有待测芯片;上位机接收用户的测试指令,并将其发送至测试驱动器;测试驱动器基于测试指令发送预设电压调整指令和预设数据读写指令至待测电路板,以对待测芯片进行预设电压下的预设数据读写测试;测试驱动器还基于预设数据读写测试的测试结果统计待测芯片的软失效率,并将其反馈至上位机。基于该软失效测试系统,用户通过上位机控制测试驱动器即可对待测芯片的软失效测试条件进行调控,无需技术人员进入辐射室内进行调整,避免了等待辐射强度下降的时间,进而有效地提升了软失效测试的测试效率。
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