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失效单元测试方法及装置、存储介质、电子设备

745   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:34
本公开是关于一种失效单元测试方法及装置、存储介质、电子设备,涉及集成电路技术领域。该失效单元测试方法包括:在系统开机后,向所述DRAM中写入测试数据;停止向所述DRAM发送刷新指令,并等待预设时间;读取所述DRAM中的数据,并将所述读取的数据与写入的所述测试数据进行比较,根据所述读取的数据与写入的所述测试数据比较的结果,确定所述DRAM中发生翻转的数据;根据所述发生翻转的数据所在的存储单元确定所述DRAM中的失效单元。本公开提供一种在应用端执行失效单元测试的方法。
声明:
“失效单元测试方法及装置、存储介质、电子设备” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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