本公开提供了一种失效测试方法、测试装置、测试设备和可读存储介质,涉及半导体技术领域。其中,失效测试方法包括:向存储阵列中的存储单元周期性写入循环顺序移位的测试数据,其中,在一个测试周期,针对所述存储阵列中的激活字线,以指定突发长度的存储单元为写入单位写入所述测试数据,直至写完所述存储阵列,在下一个测试周期,对所述测试数据进行顺序移位,并将移位后的所述测试数据写入所述存储阵列,直至完成失效测试。通过本公开的技术方案,通过以指定突发长度的存储单元为写入单位写入测试数据,能够提升测试效率。
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