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晶振时钟失效检测电路

825   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:32
本实用新型公开了一种晶振时钟失效检测电路,包括依次电性连接的外部晶振、时钟整形模块、晶振频率侦测模块和时钟安全管理模块;其中,外部晶振用于产生晶振时钟;时钟整形模块用于将晶振时钟由正弦波整形成方波;晶振频率侦测模块用于检测晶振时钟的频率是否在预设范围内,若不在预设范围内,则产生异常信号;当接收到异常信号时,时钟安全管理模块将芯片系统的工作时钟由晶振时钟切换为内部RC时钟。根据本实用新型的晶振时钟失效检测电路,能够快速准确地检测到外部晶振是否停止振荡,且能够检测晶振时钟的频率是否过快或者过慢,并在检测到晶振时钟异常时,及时将芯片系统的工作时钟切换成内部RC时钟,避免芯片系统运行紊乱。
声明:
“晶振时钟失效检测电路” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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