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IGBT模块早期失效检测方法

766   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:32
本发明公开了一种IGBT模块早期失效检测方法,包括:对IGBT模块进行高温阻断检测,如果不满足第一条件,则判定为早期失效,其中,所述第一条件是指:10~50分钟的检测时间内,IGBT模块的阻断漏电流小于100mA,变化率小于100%。由于检测的时间只有10~50分钟,检测周期大大缩短,所以在生产过程中可以实现对所有的IGBT模块进行检测,同时,检测过的IGBT模块可以继续使用,进而大大降低了成本。
声明:
“IGBT模块早期失效检测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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