8mm基片集成波导环行器失效率检测方法,涉及微波器件技术领域。本发明包括下述步骤:1)确定SIW结构失效率λG1:2)确定金属通孔失效率λG2:3)确定SIW转微带失效率λG3:4)确定铁氧体圆柱失效率λG4:5)确定永磁体失效率λG5;6)以下式确定环行器整体失效率λsp:λsp=λG1+λG2+λG3+λG4+λG5本发明的有益效果是:检测结果可靠,适用范围广。
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