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芯片指令高速缓存失效的检测方法及系统

648   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:32
本发明提供一种芯片指令高速缓存失效的检测方法,所述方法为:1、在芯片指令高速缓存中预设复数个最小指令单元,2、根据宏函数的递归性,逐级创建宏函数单元,各级宏函数单元包裹有最小指令单元,且每一级宏单元不断的包裹前一级宏单元构成了一大函数,3、CPU内的逻辑运算单元ALU从高速缓存中获取大函数中所有的最小指令单元的指令进行执行,逻辑运算单元ALU访问高速缓存的每个比特,大函数中的指令会依次执行,大函数执行完成,则整个芯片指令高速缓存进行了遍历;4、根据大函数是否完成即能判断芯片指令高速缓存是否失效或者异常。本发明还提供了一种芯片指令高速缓存失效的检测系统,本发明提高检测效率,加快芯片检测的流通环节,省时省力。
声明:
“芯片指令高速缓存失效的检测方法及系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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