本发明涉及用荧光材料检测荧光计的失效或性能恶化,具体涉及一种用于自检荧光计的失效或性能恶化的系统和方法,包括安装在载体上以相对于一个或多个固定荧光计移动的荧光参考标准物。使用所述荧光计初始测量所述荧光参考标准物的荧光发射强度,并且在荧光计使用了一段规定时间后,使用荧光计测定荧光标准物的荧光发射强度的测试量值。将所述测试量值与所述初始量值相比较,并且基于所述测试量值与所述初始量值的偏差确定所述荧光计的失效或性能恶化。
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