本申请公开了一种存储器
芯片的失效单元检测修复方法,包括:对存储器芯片进行检测;若存在失效单元,则获取所检测到的第一失效单元的失效行地址线/失效列地址线;设置失效行地址线/失效列地址线,使其能够被识别为有效行地址线/有效列地址线;对经过设置处理后的存储器芯片进行检测;确定是否还存在其他失效单元;若是则获取第一失效单元所位于的列地址线/行地址线,利用一列地址冗余线/行地址冗余线替换失效列地址线/失效行地址线,转向对存储器芯片进行检测;否则利用一行地址冗余线/列地址冗余线替换失效行地址线/失效列地址线。本申请的方法使得对失效单元的检测修复效率更高,且准确率更高,耗时少,降低了工艺时间成本。
声明:
“存储器芯片的失效单元检测修复方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)