本发明公开了一种
芯片短路失效检测系统及方法,其中该系统构包括有指令处理模块、数据存储模块、固件更新模块、电源电压控制模块、失效检测模块及过冲电压控制模块,所述指令处理模块、数据存储模块、固件更新模块、电源电压控制模块、失效检测模块及过冲电压控制模块均设置于嵌入式微处理器中。本发明解决了失效分析对测试机台的依赖,方便用户使用,携带方便,引入自动化测量及修复方法,实现对芯片自动化控制,具备多种短路失效分析模式和自适应电压对冲技术等自动化检测和修复机制,解决人员重复劳动和效率低下问题,整个过程减少人参与,大大提高工作效率。
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我是此专利(论文)的发明人(作者)