本发明涉及一种用于Nanoprobe‑FIB‑TEM失效分析的多用途样品座,包括:半月形样品台为具有窗口的半圆形硅片,TEM薄片样品固定在该窗口上;基座包括本体、用于安装Nanoprobe样品的第一支柱和用于安装半月形样品台的第二支柱,第一支柱和第二支柱固定连接在本体上,本体具有第一基座贯通孔和第二基座贯通孔;卡座具有第一卡座贯通孔和第二卡座贯通孔;第一卡座贯通孔与第一基座贯通孔或第二基座贯通孔适配,第二卡座贯通孔与FIB样品卡座台适配。本发明还提供上述的多用途样品座的应用。根据本发明的多用途样品座,适用于Nanoprobe、FIB、TEM多仪器,免去了在不同仪器里频繁更换样品台的步骤。
声明:
“用于Nanoprobe-FIB-TEM失效分析的多用途样品座及其应用” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)