合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 用于芯片失效分析的图像采集方法及系统

用于芯片失效分析的图像采集方法及系统

1091   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:31
本发明公开了一种用于芯片失效分析的图像采集方法及系统。该方法包括:根据金相显微镜(OM)或扫描电镜(SEM)机台提供的通信接口和相关的编程接口,编写上位机应用程序实现:控制金相显微镜机台/扫描电镜机台载物台上的芯片按照用户设置的参数移动,并在其移动过程控制金相显微镜机台的相机对该芯片的不同部位进行持续拍摄、自动保存拍摄所得的图像。通过本发明提供的技术方案能够实现采用金相显微镜机台/扫描电镜机台对其载物台上的芯片的不同位置进行自动、持续拍摄并保存相关图像,实现对失效芯片的大范围、高效率地图像采集。
声明:
“用于芯片失效分析的图像采集方法及系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

2024退役新能源器件循环利用技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记