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用于晶圆上坏点的失效分析的方法

752   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:31
本发明提供一种用于晶圆上坏点的失效分析的方法,所述方法包括:对晶圆坏点所对应的问题光罩图案进行直接模拟;以及基于模拟结果与生成所述问题光罩图案所基于的原始光学邻近修正版图的模拟的比较确定所述晶圆坏点是否起因于光罩错误。本发明所提供的用于晶圆上坏点的失效分析的方法可以将光学邻近修正过程可能的错误与光罩错误各自产生的影响分离开来,准确确定晶圆坏点产生的根本原因是否在于光罩错误。
声明:
“用于晶圆上坏点的失效分析的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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