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发光二极管失效分析解剖装置和解剖方法

917   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:31
本发明公开一种发光二极管失效分析解剖装置,包括操作平台、调温加热台及体视显微镜;操作平台设置加热板,该加热板与调温加热台电连接,加热板加热发光二极管表面封装胶体;操作平台置于体视显微镜的视场范围中。本发明还公开一种发光二极管失效分析解剖方法。本发明可以减少损伤LED芯片,提高失效异常分析的准确性,同时提高LED芯片解剖效率。
声明:
“发光二极管失效分析解剖装置和解剖方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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