本发明公开一种发光二极管失效分析解剖装置,包括操作平台、调温加热台及体视显微镜;操作平台设置加热板,该加热板与调温加热台电连接,加热板加热发光二极管表面封装胶体;操作平台置于体视显微镜的视场范围中。本发明还公开一种发光二极管失效分析解剖方法。本发明可以减少损伤LED
芯片,提高失效异常分析的准确性,同时提高LED芯片解剖效率。
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