合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 芯片失效分析仪

芯片失效分析仪

712   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:30
本实用新型公开了一种芯片失效分析仪,其测试夹具包括底板、载板及夹板,底板中央设有均匀布置的金属凸起,贯穿载板上表面、下表面设有与金属凸起对应的均匀布置的通孔,通孔内设有用于与被测芯片的引脚连接的连接件,连接件包括设于载板上表面的金属薄片及连接于金属薄片下的金属探针,金属探针套设有弹性部件,且弹性部件固定于通孔内壁,被测芯片置于载板上表面时,夹板轻压于被测芯片上,被测芯片的引脚压于金属薄片上,弹性部件一起被压缩,且金属探针与金属凸起电性连接;其测试机台用于对被测芯片输出测试信号,且可选择地与金属凸起电性连接。本实用新型是一种能够广泛适用于各种封装结构的芯片进行失效分析的测试设备。
声明:
“芯片失效分析仪” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

2024退役新能源器件循环利用技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记