合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 失效分析系统

失效分析系统

1037   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:30
本发明公开了一种失效分析系统,涉及集成电路失效分析技术领域,通过将测试流程和测试条件写入单片机,然后利用该单片机来控制并实现对芯片的动态热点分析:包括电源短路测试、各种漏电测试、功能测试等多种循环测试,从而无需对测试机进行频繁的移动,进而不会影响到测试机的性能。
声明:
“失效分析系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

2024退役新能源器件循环利用技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记