本实用新型提供了一种失效分析显微镜,包括:会聚超透镜和显微系统,所述显微系统包括显微物镜;所述会聚超透镜位于所述显微系统外侧,并与所述显微物镜位置对应;所述会聚超透镜远离所述显微物镜的一侧用于放置待测样品,所述会聚超透镜用于对所述待测样品所出射的激发光线进行会聚,并将会聚的激发光线射向所述显微物镜。通过本实用新型实施例提供的失效分析显微镜,利用会聚超透镜对待测样品所出射的激发光线进行会聚,可以增大系统数值孔径,能够提高光学显微镜的分辨率,可以用来检测待测样品的表面缺陷或破损,实现失效分析。并且,使用超表面作为会聚光线的会聚超透镜,可以有效地减小整体的尺寸,减轻整体的重量。
声明:
“失效分析显微镜” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)