合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 片式熔断器失效点的分析方法及装置

片式熔断器失效点的分析方法及装置

1052   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:29
本说明书一个或多个实施例提供一种片式熔断器失效点的分析方法及装置,所述熔断器失效点的分析方法包括对待检测的片式熔断器的外观进行观察,检测所述片式熔断器的陶瓷基片是否损坏;将外观合格的片式熔断器进行X射线检查,查找所述外观合格的片式熔断器失效点的位置;对外观合格的片式熔断器进行第一导通测试,确认所述外观合格的片式熔断器是否为开路;通过化学方法对所述外观合格的片式熔断器进行处理,获得去除保护膜的片式熔断器;对所述去除保护膜的片式熔断器进行第二导通测试,获得原始形貌完整的失效点的数量和位置。通过本发明方法中化学处理法对片式熔断器保护膜的处理,对导电膜造成的损坏低,降低了失效点的原始形貌的受损程度。
声明:
“片式熔断器失效点的分析方法及装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

2024退役新能源器件循环利用技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记