本发明提供一种基于高温光发射显微分析技术的失效点定位方法,属于失效分析技术领域,包括:提供一具有承载平台的加热装置、一温度监测装置、一电压激励源以及一检测组件,将测试样品放置于承载平台上,并将电压激励源连接测试样品;通过加热装置将测试样品加热到预定温度,温度监测装置提供给测试者监测测试样品的实时温度,在实时温度到达预定温度时通过电压激励源向测试样品施加预定数值的电压激励,通过检测组件进行基于光发射显微分析技术的检测操作得到失效点的定位信息。本发明的有益效果:定位处于高温状态下的测试样品的漏电失效点,以找到失效原因,提升经济效益。
声明:
“基于高温光发射显微分析技术的失效点定位方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)