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透射电镜试样及其制备方法、待测结构的失效分析方法

822   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:29
本申请实施例公开了一种透射电镜试样及其制备方法、待测结构的失效分析方法,其中,所述透射电镜试样的制备方法包括:在待测结构中确定测试区域;在测试区域中确定待分析结构和待去除结构,所述待分析结构沿第一方向的两端分别与所述测试区域的边缘具有第一预设距离,所述待去除结构位于所述待分析结构沿第二方向的投影区域内,所述待分析结构朝向所述第二方向的侧面与所述待去除结构接触,所述第一方向与所述第二方向之间的夹角大于0°且小于180°;去除所述待去除结构,并保留在第一方向上位于所述待去除结构两侧的至少部分所述测试区域作为支撑结构,得到透射电镜试样,其中,所述支撑结构与所述待分析结构形成一体成型的至少一个U型支架。
声明:
“透射电镜试样及其制备方法、待测结构的失效分析方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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