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提高绝缘体击穿电压失效分析效率的测试结构及使用方法

769   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:29
本发明公开一种提高绝缘体击穿电压失效分析效率的测试结构,包括:若干并联电容,每一个电容的上极板均通过第一接线连接第一金属垫,每一个电容的下极板均通过第二接线连接第二金属垫,其特征在于,还包括:第三金属垫,通过第三接线连接所述第二接线;第四金属垫,通过第四接线连接所述第一接线。本发明的优点是:采用新的测试结构后,对测试结果没有影响,同时在失效分析时也能保证绝大部分样品能找到失效位置。
声明:
“提高绝缘体击穿电压失效分析效率的测试结构及使用方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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