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电子产品的可靠性失效分析检测方法

817   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:29
本发明公开了一种电子产品的可靠性失效分析检测方法,包括以下步骤:S1、在电子产品元件上安装温度、电流和电压监测装置;S2、将电子产品元件额定范围输入分析检测单元并作为第一数据;S3、温度、电流和电压监测装置对电子产品元件实时数据检测并上传;S4、上述数据在分析检测单元中与额定范围值的最大值进行比较计算,超出额定值关闭电子产品元件;S5、将失效数据通过失效数据显示单元进行显示。本发明分析检测方法简单明了,通过数次检测即可得出影响电子产品元件可靠性的主要原因,并针对性的进行改进,提高电子产品元件使用的可靠性,延长电子产品元件使用寿命,适合进行推广。
声明:
“电子产品的可靠性失效分析检测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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