本发明提供一种工业CT伪影校正方法,包括步骤:基于正投影法获得伪影场,对其进行阈值分割获得包含被测对象及受伪影强干扰的背景区域S(x,y);实际CT图像Q(x,y)除去S(x,y)得到伪影弱干扰背景图像G(x,y),获取其灰度直方统计图中最大峰值的灰度值;Q(x,y)中包括S(x,y)得到前景及伪影强干扰背景图像H(x,y),获取[0,T]的最佳拟合高斯曲线;计算其概率密度函数并归一化处理;统计分析Q(x,y)中每个像素点的局部灰度,获取占比灰度值最大的灰度,计算其对应的归一化概率密度函数;对受伪影强干扰的背景区域灰度值校正及对Q(x,y)各个灰度值校正,与现有技术相比,本校正方法在针对单一材料复杂内部结构工件的CT扫描时,能有效降低伪影引起的灰度差异,实现精确、可靠、无损测量其内部结构尺寸。
声明:
“工业CT伪影校正方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)