一种基于叶绿素荧光技术的作物冷损伤程度分级方法,在不同低温条件下培养作物植株相同时间,获取用于建立分级模型的若干组PSⅡ叶绿素荧光参数以及用于模型验证的若干组PSI叶绿素荧光参数,其中每组PSⅡ叶绿素荧光参数包含15种叶绿素荧光参数,分析不同低温温度及持续时间下作物叶片15种叶绿素荧光参数变化情况;对15种叶绿素荧光参数进行归一化处理后,进行相关性分析,简化选取前4个主成分,基于层次聚类方法对4个主成分相应的综合因子作无监督分类,将作物叶片分为6级,并采用PSI参数Y(I)对分级结果进行验证。本发明可为检测作物冷损伤程度提供新的研究方法,在作物冷害无损诊断方面有良好的前景。
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