本发明属于无损检测相关技术领域,其公开了一种导波激励源特性分析方法,该方法包括以下步骤:(1)获取导波传感器在构件中形成的激励源分布函数在柱坐标系中的数学表达式;(2)将构件非中心轴上的任一点作为原点,并将构件沿圆周方向的柱面展开为无限大平面;(3)对激励源沿构件圆周方向的分布函数进行傅里叶级数展开,进而获得激励源的归一化周向幅值参数;(4)对激励源沿构件轴向的分布函数进行傅里叶积分变换,进而获得激励源的归一化轴向幅值参数;(5)结合构件的频散曲线、导波的波结构、归一化轴向幅值参数及归一化周向幅值参数来分析激励源在构件中的导波激励特性。本发明算法简单,易于实行,灵活性较好,适应性较强。
声明:
“导波激励源特性分析方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)