本实用新型属于无损检测领域,具体涉及一种用于相控阵超声仪器和探头的系统性能校准A型试块,包括试块主体以及设置在试块主体上的两组人工反射体和两个探头标记;所述两个探头标记刻蚀于试块主体上表面,两组人工反射体是分别以两个探头标记为圆心,分别以50mm和25mm为半径的圆弧上的通孔;同一组内人工反射体之间的间隔≥2.5°,角度范围0~85°;最靠近试块主体上表面的人工反射体与试块主体的侧边界距离≥25mm,两个探头标记之间的距离≥探头与试块接触面的长度;所述半径为50mm圆弧上人工反射体的直径为2mm,所述半径为25mm圆弧上人工反射体的直径为1mm。可用于扇扫角度分辨力、扇扫角度范围测量误差、短缺陷分辨力的校准,方便快捷。
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