本发明公开了一种远场光学超分辨显微方法,具体涉及对样品表面微小结构的光学超分辨显微方法。本发明通过激光干涉测振仪测量不同微小样品的振动模态,利用样品表面微小结构的本征振动频率差异,再配合亚纳米二维位移扫描平移台,绘制出高分辨的空间位置、激励频率的振动谱和像图,从而实现超分辨显微成像。由于该发明是利用样品表面的微小结构的振动频率差异来标识,而且微小结构的振动是采用激光激励和激光检测,因此该方法具有对样品无标记、无损伤、无污染的特征。
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