本发明涉及花椒产地和品种的快速无损检测领域,特别是涉及一种基于SVM算法的花椒产地和品种的近红外光谱识别领域,属于花椒产地和品种的检测领域。该方法详细地说明了如何通过SVM算法建立分类模型,对花椒属性进行定性分析。首先,对已知花椒属性的样品进行相应的处理,并对NIR仪器进行相应参数的调整;其次,对已经制备好的样品,采集它的近红外光谱图,将光谱进行预处理;然后,对光谱图进行分析计算;最后,将光谱数据作为SVM算法的输入,通过粒子群算法(PSO)确立惩罚参数c和核函数参数g的最优参数组合,从而为构建最佳的分类模型提供一种方法,也最终为实现鉴别花椒产地和品种提供一种方法。
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“基于SVM算法的花椒产地和品种的近红外光谱识别方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
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