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伪双能欠采样物质识别系统

597   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:48
公开了一种伪双能欠采样物质识别系统。该系统利用基于CT图像的双能投影欠采样物质识别方法,在第二层探测器中仅利用少量的探测器进行双能数据采样,并将该方法中解方程组的部分进行优化,有效的实现了低成本,快速度的双能物质识别成像。具有应用于安全检查,无损检测,医疗诊断等领域的潜力。
声明:
“伪双能欠采样物质识别系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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