本发明属于无损检测技术领域,涉及一种单晶片和相控阵超声组合探头。其特征在于:包括中心单晶片探头(1)和环形相控阵探头(2),环形相控阵探头(2)环绕在中心单晶片探头(1)的外面。本发明提出了一种单晶片和相控阵超声组合探头,克服了超声相控阵检测近表面分辨力差的缺点,使其在具备超声相控阵检测高效、灵活等优点的同时,达到了较高的近表面分辨力。
声明:
“单晶片和相控阵超声组合探头” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)