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基于微波致热的缺陷深度信息提取方法

871   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:44
本发明提供一种基于微波致热的缺陷深度信息提取方法,属于红外无损检测技术领域。该方法通过对材料进行微波加热,在恒定输出功率下,材料达到了温度平衡后,对材料进行红外温度检测;然后通过已知的材料电磁参数、输出功率,结合电磁波的多层反射理论,完成对缺陷深度信息的提取。本方法对缺陷深度信息检测更为精确,同时具有检测方式简便。
声明:
“基于微波致热的缺陷深度信息提取方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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无损检测
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