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用于裂纹方向识别的超声散射系数优化计算方法

661   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:44
本发明涉及一种用于裂纹方向识别的超声散射系数优化计算方法,属无损检测领域。本发明利用超声相控阵检测系统,采集裂纹缺陷的全矩阵数据,首先利用采集到的数据对缺陷进行全聚焦成像确定其位置,然后计算裂纹缺陷的散射系数空间分布,确定裂纹的角度。其中子阵列包含的晶片个数、相邻子阵列间隔晶片数对裂纹角度的测量精度影响较大。本发明利用多个评价指标评价不同子阵列包含的晶片个数、相邻子阵列间隔晶片数时裂纹角度测量结果的优劣,通过主成分分析法综合评价测量结果,得到最佳测量结果,其对应的参数——子阵列包含的晶片个数和相邻子阵列间隔晶片即为最佳检测参数。
声明:
“用于裂纹方向识别的超声散射系数优化计算方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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